Fundamentos de Metrologia

Apresentação: O cursocomplementa a formação de graduação em engenharia ou ciências exatas apresentando fundamentos em metrologia científica. São abordados conceitos fundamentais descritos em documentos tais como o Sistema Internacional de Unidades, o Vocabulário Internacional de Metrologia e a norma ISO 1725. A abordagem é completada apresentando a discutindo fundamentos na calibração, aspectos do controle de instrumentos de medição, seleção de serviços de calibração e a análise de certificados de calibração.

Objetivos: Desenvolver discussão e análise de fundamentos em metrologia focados na calibração, uso e controle de instrumentos, proporcionando a ampliação dos conhecimentos nesta área para profissionais graduados e estudantes.

Público-alvo: Estudantes de cursos de engenharia, superior de tecnologia ou ciências exatas e profissionais graduados, em especial engenheiros.

Conteúdo Programático:

• Sistemas Internacional de Unidades.
• Vocabulário Internacional de Metrologia.
• Interpretação e Compreensão da Incerteza.
• Rastreabilidade da Medicação.
• Propriedade Metrológicas de um Instrumento ou Sistema de Medicação.
• Orientações Gerais para Calibração e Uso de Instrumentos.
• Controle de Instrumentos de Medicação.
• Seleção de Serviços de Calibração.
• Metrologia Legal.

Ministrante: Profº Guilherme Spies Ullmann --- Guilherme Spies Ullmann, formado em Engenharia Elétrica pela Universidade Federal do Rio Grande do Sul (2004), pós-graduado em MBA Gestão de Projetos na Fundação Getúlio Vargas (2009).

Atuou na gestão de Laboratórios de Calibração, Ensaios e Confiabilidade. Responsável por projetos de implantação de laboratórios e acreditação ISSO 17025 no CGCRE/ INMETRO.